多通道SIR-CAF实时监控测试系统-高阻方案

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系统概述∶

PCB线路板的诞生之日起,表面阻搞测试SIR/CAF测试就成为PCB线路板可靠性评估的测试工具。

该系统广泛用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂,封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估,以及焊锡青、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝蟒性能退化评估。

1, SIR(Surface Insulation Resistance))∶表面绝缘阻抗,通常用来作电路板的信赖性试验,其方法为在印刷电路板(PCB)上将成对的电极交错连接成梳形电路(Pattern),并印上锡膏(solder paste),然后在一定高温高湿的环境下持续地给予一定偏压(BIAS VOLTAGE),经过一定长时间的试验(24H.48H.96H.168H)并观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。这个试验也有助看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否有残留任何会影响电子零件电气特性的物质。

2,CAF(Conductive Anodic Filament)∶是导电性阳极丝,是PCB内部的Cu离子沿着玻纤的微裂通道或接口部位,从阳极向阴极方向生长而形成导电性细丝物的现象。指的是PCB 内部铜离子从阳极(高电压)沿着玻纤丝间的微裂通道,向阴极(低电压)迁移过程中发生的铜与铜盐的漏电行为。当 PCB/PCBA在高温高湿的环境下带电工作时,两绝缘导体间可能会产生严重的沿着树脂或玻纤界面生长的CAF,此现象将最终导致绝缘不良甚至短路失效。

测试系统∶

1,影响 SIR/CAF 测试的因素∶
样品的准备,测试样品(PCB板材,电极材料,阻焊膜,涂覆材料,元器件),测试环境,漏电流的检测,测试条件(偏置电压设定,温度,湿度),连接方式都会影响到SIR/CAF
的测试准确性。

2,测试原理
用户在设定的老化环境下,在被测样品的正负电极施加一个电源正负极的电压,通过一定的时间内连续对产品测试后的绝缘阻值变化测量的一个过程(可以从电阻值的变化上知道试验开始初期阶段以来测试所产生的差异、以及到发生故障时电阻值发生了紊乱等信息),以此来评估产品的可靠性。
绝缘电阻的测试原理是对被测物体施加一个恒定直流电压,再测量出该被测物中流过的电流,根据欧姆定律换算出绝缘电阻阻值。
本系统的测试方法是多路开关分别将各个被测样品接入测试回路中,给被测样品加试验
电压,一定时间后,加测试电压,然后用高阻计表进行测量。

3,本系统是由高阻计,可编程电源,控制单元以及相应的开关电路构成:

(1)高阻计提供高精度、低噪声和低纹波的测试电压,并以精密电流测试为主,用于对流 过被测样品的电流进行精确测量;

(2)可编程电源提供偏置电压;

(3)控制单元是整个系统的核心,对整个测试过程指定工作状态,在测试初期根据测试要 求设定相应的参数以及工作步骤;测试过程中,对所获得的数据进行运算,并将最终的测试 值显示在电脑屏上,以及进行数据保存。

测试系统示意图

系统图片


现场图片

高低阻(CAF/TCT)测控售后服务

1、优化升级系统,更新换代硬件

2、定期巡查回访使用情况,及时解决客户使用问题